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UNIST 연구진, 신소재 그래핀 결함 찾는 기술 개발
송고시간2017/11/29 15:42
유니스트 연구진이 그래핀에 생긴 결함을 쉽게 찾는 기술을
개발해 그래핀 상용화에 기여할 전망입니다.

울산과학기술원은 권순용 신소재공학부 교수팀과 김성엽
기계항공 원자력공학부 교수팀이 구리 기판에 성장시킨
그래핀 결함을 광학현미경과 전자현미경으로 간단하게
찾아내는 기술을 개발했다고 밝혔습니다.

연구진은 앞으로 구리 기반 전자소자 연결 소재 영역에서
그래핀을 도입할 발판을 마련했다며 고품질 그래핀 시트를
기반으로 다양한 차세대 전자소자에 그래핀을 적용하는
연구가 가속화될 것이라고 설명했습니다.

작성자 이현동